【中國(guó)國(guó)際招標(biāo)網(wǎng)】

招標(biāo)項(xiàng)目編號(hào)：0862-254HNZJC0005

項(xiàng)目名稱：半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)設(shè)備

項(xiàng)目名稱（英文）：Semiconductor defect detection equipment

招標(biāo)人：湖南普照信息材料有限公司

招標(biāo)機(jī)構(gòu)：中技建設(shè)咨詢有限公司

招標(biāo)方式：公開(kāi)招標(biāo)

招標(biāo)結(jié)果：重新招標(biāo)