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招標(biāo)項(xiàng)目編號：0834-2441SH24A536
項(xiàng)目名稱：中國科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所掩模缺陷檢測設(shè)備
項(xiàng)目名稱（英文）：Mask Defect Detection Equipment
招標(biāo)機(jī)構(gòu)：上海中招招標(biāo)
招標(biāo)方式：公開招標(biāo)
招標(biāo)結(jié)果：重新招標(biāo)
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